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工业X射线衍射仪点阵常数的测定

发布时间:2017-04-12   点击次数:1001次
  工业X射线衍射仪是进行X射线分析的重要设备,主要由X射线发生器、测角仪、记录仪和水冷却系统组成。工业X射线衍射仪带有条件输入和数据处理系统。工业X射线衍射仪的X射线发生器主要由高压控制系统和X光管组成,它是产生X射线的装置,由X光管发射出的X射线包括连续X射线光谱和特征X射线光谱,连续X射线光谱主要用于判断晶体的对称性和进行晶体定向的劳埃法,特征X射线用于进行晶体结构研究的旋转单体法和进行物相鉴定的粉末法。
  工业X射线衍射仪可用于点阵常数的测定:
  点阵常数是晶体物质的基本结构参数,测定点阵常数在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶体溶解度曲线、测定热膨胀系数等方面都得到了应用。点阵常数的测定是通过X射线衍射线的位置(θ)的测定而获得的,通过测定衍射花样中每一条衍射线的位置均可得出一个点阵常数值。点阵常数测定中的度涉及两个独立的问题,即波长的精度和布拉格角的测量精度。波长的问题主要是X射线谱学家的责任,衍射工作者的任务是要在波长分布与衍射线分布之间建立一一对应的关系。知道每根反射线的密勒指数后就可以根据不同的晶系用相应的公式计算点阵常数。晶面间距测量的精度随θ角的增加而增加,θ越大得到的点阵常数值越,因而点阵常数测定时应选用高角度衍射线。误差一般采用图解外推法和zui小二乘法来消除,点阵常数测定的度极限处在1×10-5附近。

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