产品展示
  • 马尔文帕纳科2830 ZT 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 圆晶分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计,该仪器可为多种晶片(厚达 300 mm)测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。

  • 通过使用马尔文帕纳科X射线荧光光谱仪Epsilon Xflow进行在线液体分析,可以快速准确地控制过程参数。 增强的法规和质量规范推动对持续工艺流程的需求。 Epsilon Xflow 提供的实时洞察能力让您能够更有效地管理您的生产工艺并降低运营成本。 • 同步分析多种元素 • 实时结果 • EDXRF 技术 • 高度可重复性

  • 借助 XRF 光谱仪 Epsilon 3 系列的经验打造而成,Epsilon 4 是一款多功能台式 XRF 分析仪,广泛用于从研发到流程控制等各个领域中需要从氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行业细分市场。 Epsilon 4 台式X射线荧光光谱仪将激发和检测技术与成熟软件和智能设计相结合,其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光谱仪。

  • 马尔文帕纳科台式XRF能谱仪一体机Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光谱仪、内置计算机、触摸屏和分析软件。 Epsilon 1 采用激发和检测技术的新成果,是低成本小型台式XRF仪器。

  • X射线荧光光谱仪 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析,包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计,其高品质的设计和功能,可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。

  • 由于时间关键型过程控制或运行样品高处理量,您是否需要在几秒钟内对化学成分进行无损分析? 同时测量多达 28 种元素,浓度范围为从 ppm 至 100%,马尔文帕纳科多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪Axios FAST 是理想的解决方案。 准确而强大的分析,即使经验不足的员工也可方便地操作,同时正常运行时间长,拥有成本低。

共 6 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 

© 2019 马尔文帕纳科 版权所有
备案号: 技术支持:化工仪器网 GoogleSitemap 总访问量:501952 管理登陆

扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站