X射线荧光光谱仪是一种基于X射线激发原理的非破坏性分析仪器,通过测量物质受激发后产生的特征X射线荧光,实现元素成分的定性与定量分析。其核心原理是利用高能X射线或伽马射线轰击样品,使样品中的原子内层电子被击出,形成电子空穴。外层电子跃迁填补空穴时,释放出具有特定能量(或波长)的特征X射线,探测器捕获这些荧光信号后,通过软件系统转换为元素种类及含量信息。
  1、清洁样品室(样品腔)
  每次测试后:使用洁净、干燥、无绒的软布或专用吹气球清除样品室内的粉尘、样品碎屑或残留物。
  避免使用液体清洁剂:严禁将水或有机溶剂直接喷洒或擦拭样品室,以免损坏探测器窗口、光路系统或电路板。
  特殊污染处理:若样品为液体或易挥发物质,应立即清理,防止腐蚀或污染内部组件。
  2、清洁样品托盘和样品杯/膜
  取出样品后,及时清理托盘上的残留物。
  对于压片样品,清除粉末;对于液体样品,用无水乙醇擦拭干净并晾干。
  定期检查样品杯底部的**聚酯薄膜(Mylar膜)**是否破损、起皱或污染,及时更换。
  3、检查X射线管窗口
  观察X射线出口窗口(通常为Be窗)是否清洁、无划痕或污染。若有灰尘,用吹气球轻轻吹净。
  切勿用手或硬物触碰,Be窗极薄且有毒,破损会导致X射线泄漏和仪器故障。
  4、检查探测器状态
  对于Si(Li)或SDD探测器,确保制冷系统(如Peltier制冷或液氮)工作正常。
  检查制冷温度是否达到设定值(如-35°C以下),避免探测器“升温”导致性能下降。
  5、运行仪器自检程序
  开机后或关机前,运行仪器自带的真空检测(如有)、X射线管预热、稳定性测试或标准样校验程序,确保系统状态正常。
