X射线荧光光谱仪（XRF）是一种用于快速、无损分析材料元素组成及含量的精密分析仪器，广泛应用于地质矿产、冶金、环境监测、石油化工、电子电器、建筑材料、考古及RoHS合规检测等领域。其工作原理基于X射线激发样品中原子产生特征荧光辐射，通过检测不同元素发出的特征X射线能量或波长，实现定性与定量分析。该仪器具有无需复杂前处理、分析速度快（数秒至数分钟）、样品无损、可测固体/液体/粉末等多种形态等优点。在RoHS指令检测中，XRF被广泛用于筛查电子产品中的有害元素（如Pb、Cd、Hg...

荧光光谱仪是一种用于测量物质在特定波长光激发下所发射荧光强度与波长关系的分析仪器，广泛应用于化学、生物、医药、材料科学、环境监测及食品安全等领域。其基本原理是：当物质吸收高能量光子（通常为紫外或可见光）后，电子跃迁至激发态，随后通过辐射跃迁返回基态并发射出波长更长的荧光，荧光光谱仪通过检测这一发射光的强度和波长分布，实现对样品的定性与定量分析。该仪器具有灵敏度高（可达ppb甚至ppt级）、选择性好、样品用量少、非破坏性等优点，特别适用于痕量有机物、蛋白质、核酸、荧光染料、稀土...

激光粒度分析仪是一种基于光散射原理的高精度颗粒测量仪器，广泛应用于材料科学、工业生产及环境监测等领域。其核心原理是：当激光束照射到颗粒时，会发生衍射和散射现象，散射光的强度与角度分布与颗粒大小密切相关。通过测量不同角度的散射光信号，并利用Mie散射理论或Furanhofer衍射理论进行计算，可精确推导出颗粒的粒径分布。在应用领域方面，激光粒度分析仪发挥着重要作用。在材料科学中，它用于分析金属粉末、陶瓷原料及纳米颗粒的粒度分布，优化材料性能；在工业生产中，它助力涂料、化工及水泥...

激光粒度分布仪是一种基于激光散射原理的高精度颗粒分析仪器，主要用于测量和分析颗粒的大小分布，广泛应用于粉末冶金、陶瓷、化工、医药、食品、环保、纳米材料等多个领域。其利用激光照射被测颗粒群，颗粒会使激光产生衍射和散射现象，散射光能的空间（角度）分布与颗粒大小直接相关。大颗粒散射光角度小、强度高，小颗粒散射光角度大、强度弱。通过测量散射光的角度分布和强度，结合Mie散射理论或Fraunhofer衍射模型，可反推出颗粒的粒径分布。激光粒度分布仪在使用过程中可能遇到多种问题，以下是一...

本文摘要金属有机框架（MOF）材料作为当下材料领域的“明星”，凭借有机与无机分子自组装形成的纳米级互联空隙结构，在气体存储与分离、液体净化、药物递送、催化等众多领域展现出不可替代的优势。而要充分发挥MOF材料的性能，精准的表征分析至关重要。马尔文帕纳科（MalvernPanalytical）作为全球领xian的分析解决方案提供商，凭借强大的技术实力和丰富的经验，为MOF材料表征提供了quan方位的支持，助力科研与产业人员深入探索MOF材料的奥秘。什么是MOF材料？金属有机框架...