• 马尔文帕纳科2830 ZT 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 圆晶分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计,该仪器可为多种晶片(厚达 300 mm)测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。

共 1 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 

© 2019 马尔文帕纳科 版权所有
备案号: 技术支持:化工仪器网 GoogleSitemap 总访问量:501952 管理登陆

扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站