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X射线衍射仪相关知识了解

更新时间:2018-05-04       点击次数:3442

X射线衍射仪技术(XRD)通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,X射线衍射仪已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。

X射线衍射仪的原理:

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。

X射线衍射仪的用途:

(1)当材料由多种结晶成分组成,需区分各成分所占比例,可使用XRD物相鉴定功能,分析各结晶相的比例。
(2)很多材料的性能由结晶程度决定,可使用XRD结晶度分析,确定材料的结晶程度。
(3)新材料开发需要充分了解材料的晶格参数,使用XRD可快捷测试出点阵参数,为新材料开发应用提供性能验证指标。
(4)产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象,可能涉及微观应力方面影响,使用XRD可以快捷测定微观应力。
(5)纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。

X射线衍射仪使用注意事项:

(1)固体样品表面>10×10mm,厚度在5μm以上,表面必须平整,可以用几块粘贴一起。
(2)对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向,衍射强度异常,需提供测试方向。
(3)对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,消除表面应变层。
(4)粉末样品要求磨成320目的粒度,直径约40微米,重量大于5g。