技术文章
当前位置:首页 > 技术文章 > 来谈谈X射线荧光光谱分析的基本原理

来谈谈X射线荧光光谱分析的基本原理

发布时间:2019-07-16   点击次数:281次
       X射线荧光光谱分析通过将可选项的精度管理型软件进一步升级,并使之成为标准配备,实现了低价格化。与以往仪器相比,环境管制物质的测量时间大幅缩短,材料辨识功能、分析线切换功能、清晰易懂的操作面板易用性大大提高,分析速度更快,操作更简单。
  X射线荧光光谱分析是一种常用的分析仪器,主要由激发源和探测系统构成。
  基本原理就是:
  X射线管通过产生入射X射线(一次X射线),来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光),并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱分析。由于X荧光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱分析有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。

分享到:

加入收藏 | 返回列表 | 返回顶部

© 2019 马尔文帕纳科 版权所有
备案号: 技术支持:化工仪器网 GoogleSitemap 总访问量:350382 管理登陆