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今日详谈X荧光光谱仪的性能特点

发布时间:2019-10-09   点击次数:375次
       X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。
  X荧光光谱仪是专门为工业用户设计的、全集成化的X射线荧光光谱仪系统,小型化、高可靠性,它不需要任何外部辅助系统、如变压器、液氮或冷却水;主机采用220V交流电源,即可以安装在实验室内使用,也可以安装在质量控制现场使用。仪器可以在任何环境中,每周七天,每天24小时连续运行。
  X荧光光谱仪的性能特点:
  1、分析速度快。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,10~300秒就可以测完样品中的全部待测元素。
  2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。
  3、非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。
  4、X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
  5、分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。
  6、制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
  X荧光光谱仪应用领域非常广泛,可以分析钢铁、有色金属、土壤、水泥、油品、矿石、耐火材料、玻璃以及用户指定特殊材料。根据不同的样品,仪器可以检测从ppm到%不同含量范围内的元素及化合物。

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