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X射线荧光光谱仪的组成及XRF分析特点

发布时间:2015-08-11   点击次数:923次

一、X射线荧光光谱仪的组成

1、X射线发射系统:主要部件是X射线管,在高压和电流作用下,产生出极高强度X射线,用于激发样品。

2、冷却系统:用于冷却产生大量热的X射线管,X射线的发生效率为0.2%。X射线管消耗的电能几乎全部转化为热量,因此,在X射线管工作时,必须保证冷却系统运转正常。

3、样品传输系统:将放置在样品盘中的样品传输到测定位置。分光检测系统:把样品产生的X射线荧光用分光元件和检测器进行分光、检测。

4、计数系统:统计、测量检测器检测出的信号,同时也可以除去过强的信号和干扰线。

5、真空系统:将样品传输系统和分析检测系统抽成真空,使检测在真空中进行,避免强度的吸收损失控制和数据

6、处理系统:对各部分进行控制,并处理统计测量的数据,进行定性、定量分析,打印结果。

三、XRF分析的特点

    X射线荧光光谱在元素的定性和定量分析中得到广泛应用,它的突出特点是:

(1)谱线简单,多元素间干扰比发射光谱小,除少数轻元素外,它基本不受化学键和元素在化合物中状态影响;

(2)分析灵敏度高,大多数元素检出限达到10-5-10-8g/g;分析元素的范围宽,从硼到铀(5-92)元素都可以分析,常用的元素分析范围是氟到铀(9-92)

(3)定量分析响应范围宽,从常量到微量mg/kg

(4)分析方法的精密度高,误差一般在5%以内;

(5)制样简单,固体、粉末和液体样品都可测定,样品在分析中不受破坏,属于无损分析法;

(6)多元素同时分析,分析自动化程度高,分析速度快,几分钟内可同时给出一个样品种所含的几十种元素的定性、定量分析;

(7)仪器分析计算机操作,计算机计算输出元素百分含量结果。

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