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X射线光电子能谱光电离几率和XPS的信息深度

发布时间:2015-08-24   点击次数:961次

    X射线光电子能谱(XPS,全称为X-rayPhotoelectronSpectroscopy)是一种基于光电效应的电子能谱,它是利用X射线光子激发出物质表面原子的内层电子,通过对这些电子进行能量分析而获得的一种能谱。这种能谱zui初是被用来进行化学分析,因此它还有一个名称,即化学分析电子能谱(ESCA,全称为ElectronSpectroscopyforChemicalAnalysis)

   光电离几率和XPS的信息深度

(1)光电离几率

定义:光电离几率(光电离截面Ó):一定能量的光子在与原子作用时,从某个能级激发出一个电子的几率;?
影响因素:与电子壳层平均半径,入射光子能量,原子序数有关;
在入射光子能量一定的前提下,同一原子中半径越小的壳层,Ó越大;
电子的结合能与入射光子的能量越接近,Ó越大。
Ó越大说明该能级上的电子越容易被光激发,与同原子其它壳层上的电子相比,它的光电子峰的强度越大。

(2)XPS信息深度

    样品的探测深度通常用电子的逃逸深度度量。

   电子逃逸深度λ(Ek):逸出电子非弹性散射的平均自由程;

λ:金属0.5~3nm;氧化物2~4nm;有机和高分子4~10nm;通常:取样深度d=3λ

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