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波长色散型X荧光光谱仪与能量色散X射线荧光光谱仪的区别

发布时间:2015-06-24   点击次数:1647次

    虽然光波色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪与能量色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪,它产生信号的方法相同,zui后得到的波谱也极为相似,单由于采集数据的方式不同,WD-XRF(波谱)与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同,功能也有区别。  

一、原理区别  

    X射线荧光光谱法,是用X射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发 出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是用分光近体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X射线波长和强度,从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪(ED-XRF)是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量,由于原理的不同,故仪器结构也不同。  

二、结构区别

    波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管),样品室,分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X射线管的功率要打,一般为2-3千瓦,单X射线管的效率极低,只有1%的功率转化为X射线辐射功率,大部分电能均转化为而能产生高温,所以X射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。  能量色散型荧光光谱仪(DE-XRF),一般由光源(X-线管),样品室何检测系统等组成,与波长色散型荧光光仪的区别在于他不分光晶体。

三、功能区别  

    考虑到各种情况,能量色散型荧光仪和波长色散型荧光仪的检测限基本相同。但在(高能光子)范围内能量色散的分辨率好些,在长波(低能光子)范围内,波长色散的分辨率好些。就定性分析而言,在分析多种元素时能量色散优于单道晶体谱仪。就测量个别分析元素而言,波长色散好些。如果分析的元素事先不知道,用能量色散较好,而分析元素已知则用多道晶体色散仪好。对易受放射性损伤的样品,如果液体,有机物(可能发生辐射分解),玻璃品,工艺品(可能发生褪色)等,用能量色散型荧光散型荧光仪分析特别有利。能量色散型荧光仪很适合动态系统的研究。如在催化,腐蚀,老化,磨损,改性和能量转换等与表面化学过程有关的研究。  总之,能量色散型荧光和波长色散型荧光折两种仪器,各有所有点和不足,它们只能互补,而不能替代。

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