新闻资讯
当前位置:首页 > 新闻资讯 > 浅谈xrf分析仪曲线漂移的原因

浅谈xrf分析仪曲线漂移的原因

发布时间:2017-06-07   点击次数:1439次
  xrf分析仪曲线漂移的原因分析:
  1.要把漂移的原因搞清楚,是xrf分析仪(参数)原因还是环境(气、电、温度等);
  熔融法做类标,风险稍大,熔融法不象直读光谱,标样稳定,且基体大多情况不一致。
  2.虽说对于熔融法,类型标准化没有什么理论根据,但有时确实起到很好的效果,并不是不可用,但要确认仪器本身正常且稳定。
  对于校正xrf分析仪漂移的试样,要看强度值有多高,如果单点校正的强度值过低,可能会出现较大的问题,单点漂移校正的强度接近曲线的上端强度,相对误差会小一些,用两点校正仪器漂移。
  曲线有较大漂移时(仪器更换器件或其它因素引起,但仪器正常且稳定),为了减少重做曲线的工作量,可以采用重校正来对原有曲线进行重校,效果也不错,选择原曲线上两到四点,重熔片进行校正。
  有时不同批次的熔剂,也会对分析中的某些元素产生影响,与熔剂中杂质元素有关。
  熔融样品做标样是可以的,但是要注意吸水问题,样品在空气中的氧化问题等。

分享到:

加入收藏 | 返回列表 | 返回顶部

© 2019 马尔文帕纳科 版权所有
备案号: 技术支持:化工仪器网 GoogleSitemap 总访问量:375573 管理登陆