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简要描述:Empyrean XAS X射线吸收谱仪在实验室获得同步辐射级的物质化学局域信息。单台设备直观解析材料的局域化学环境,完成材料局域化学特性、纳米尺度结构与长程晶体结构的表征
更新时间:2026-08-03
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PRODUCT详细介绍
Empyrean 锐影XAS X射线吸收谱仪配置

为什么选择 Empyrean XAS X射线吸收谱仪?
获取普通衍射技术无法得到的信息
解析平均晶体结构之外的氧化态、局域结构以及化学状态信息。
自主把控实验安排
无需预约同步辐射实验机时,即可常规开展 XANES 与 EXAFS 测试。
建立化学信息与晶体学的关联
同一台 Empyrean 平台上集成 XAS, XRD, 散射, 对分布函数 PDF, 以及成像分析技术。
测试结果可靠
测得的数据媲美同步辐射结果,与同步辐射标准测试数据高度吻合。
核心优势
•可在实验室开展 XANES 和 EXAFS 测试
•集成式多功能工作流程
•透射式检测模式
•多吸收边检测能力
•广泛的元素覆盖范围
XAS 可为特定元素的局部化学环境提供直接洞察。通过测量元素吸收边附近的 X射线吸收情况,X射线吸收谱 (XAS) 可获取的材料信息:
元素氧化价态
配位几何构型
原子间距测量
短程有序研究
Empyrean X射线衍射仪采用专用的透射配置开展 XAS 测量,确保能量扫描始终稳定且具备优异的重现性。
X 射线近边吸收谱 (XANES) 可提供吸收边附近的氧化态与电子结构信息,而扩展X射线吸收精细结构谱 (EXAFS) 则可在较高能量范围内探测原子的短程有序性。
当与衍射及散射技术结合时,XAS 有助于研究人员在单次实验工作流程中,实现“局部化学 → 纳米尺度结构 → 长程晶体学"的无缝关联。

Empyrean XAS X射线吸收谱仪可提供高质量、高重现性的光谱数据,适用于定性与定量分析。
高能量分辨率支持开展深入的 XANES 分析,包括精确捕捉对氧化态及配位环境高度敏感的边前特征。
在较高能量下,系统提供了适用于EXAFS定量分析的宽 k 空间范围,从而支持提取配位数和原子间距等结构参数。
测量采用透射几何光路,为各类材料的定量结构解析提供了稳健且具高重现性的途径。

Empyrean XASX射线吸收谱仪支持覆盖元素周期表大部分元素的测量,有助于同时研究以下两个方面:
中等原子序数元素(如钛、铁、镍和钼)的 K 吸收边
较重元素(如钡和铈)的 L 吸收边
覆盖以下能量范围: 4–20+ keV
这一技术能力支持对储能、催化、功能材料及环境系统等领域各种材料的表征分析。
在单次实验中即可测量多个吸收边,从而高效表征含有多种元素的复杂材料。

许多先进材料的性能都依赖于多种元素之间的相互作用。借助 Empyrean XAS X射线吸收谱仪,可在单次实验中测量多个吸收边。
实现对复杂材料的高效分析,例如:
多组分催化剂
电池电极
功能氧化物
多元素合金
无需反复调整仪器配置,即可依次连续采集多个吸收边,从而助力研究人员更高效地评估各元素之间的相互作用。
结果如何?实验更迅速,数据更全面。

得益于 PreFIX 概念,测量配置的更换不仅快捷,且具备优异的重现性。这实现了衍射、散射、成像与光谱分析之间的顺畅切换,而无需繁琐的重新准直操作。
此模块化设计支持将多种互补技术整合至单一工作流程中,从而助力关联长程结构信息与局部化学洞察的研究。
单一分析仪。样品处理更简单。更佳的实验重现性。
Empyrean XAS X射线吸收谱仪配有集成式软件,可引导您完成从实验设置到数据解析的完整测量流程。
关键工作流程功能包括:
自动数据采集
扫描准直和归一化
探测器校正与背景扣除
吸收边前与边后拟合
光谱数据处理与归档管理
这些工具既适用于初学者,也适用于经验丰富的研究人员,仅需极少的人工干预,便可实现高效、可靠的数据处理。
通过精简工作流程,该系统缩短了从测量到结果解析的周期。
尽管特定的前沿研究仍离不开同步辐射光源,但有限的机时可能会限制常规表征及测试方法的开发。
Empyrean XAS X射线吸收谱仪提供了基于实验室获取高质量 XANES 和 EXAFS 测量数据的途径,从而支持:
常规材料筛选
测试方法优化
探索性研究
同步辐射实验前的预准备
与同步辐射测量数据的对比表明,二者的光谱特征高度一致,这为基于实验室的可靠分析提供了坚实的数据支持。
凭借更具弹性的研究规划,加速实验周期。

| 技术 | XANES、EXAFS |
|---|---|
| 能量范围 | 4-20+ keV |
| 测量模式 | 透射 |
| 能量分辨率 | 在 8 keV 时低至 1.3 eV |
| 分辨率 | 最高可达 E/ΔE ≈ 6150 |
| 可测吸收边 | 3d 过渡金属的 K 吸收边与重元素的 L 吸收边 |
| 室内或室外使用 | 支持在大气环境下运行 |
| 原位研究 | 支持 |
| 测量时间 | 数分钟至数小时 |
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