工业衍射仪是一种基于X射线衍射原理的高精度分析设备，主要用于检测材料的晶体结构、物相组成、晶粒尺寸及残余应力等关键参数，广泛应用于工业生产、材料研发及质量控制等领域。通常由X射线发生器、测角系统、探测器及数据处理软件四大核心模块构成。X射线发生器采用陶瓷X光管，以铜靶为主流配置，功率范围39kW，可提供稳定的高强度X射线源；测角系统采用光学编码器技术，实现0.0001°角度重现性，支持水平式与立式两种结构，适配不同样品形态；探测器模块包含一维探测器、能量色散阵列探测器及二维半...

本文摘要要了解电池正极材料电化学性能和长期循环稳定性与充放电过程中过度金属价态、原子局域结构变化的相关性，需要可在电池真实工况下开展相关X射线吸收谱（XAS）测试。传统原位XAS实验大多只能依托同步辐射光源开展，本文介绍马尔文帕纳科Empyrean锐影XRD平台将原位XAS表征能力落地实验室场景，配套集成软件可同步控制电池循环测试与XAS数据采集，实现电池电化学过程的实时原位观测。引言富镍层状氧化物（如NMC811，化学式LiNi₀.₈Mn₀.₁Co₀.₁O₂）是高能量密度锂...

粒度分级本质是对粉体颗粒尺寸进行标准化筛选，一方面解决原生粉体粒度不均的先天缺陷，另一方面通过精准控粒，从安全、性能、工艺、质量、成本五大维度保障下游产品稳定生产与使用，是粉体材料生产中不可省略的核心工序。分级标准说明Mesh目数的定义Mesh目数：1英寸长度内的筛孔数几个粒度分级对应的都是传统筛分法的粒度分级标准：a.ASTME11：美制目数，与ISO标准无关联b.BS410：传统英制目数。已被ISO3310替代c.ISO565：公称孔径。以微米为单位表征筛分孔径，与ISO...

动态光散射（DLS）通过采集散射光强度的自相关函数，并对该函数进行拟合，从而获得颗粒粒径信息。目前主流的拟合算法主要有两类：累积量法（Cumulants）：输出Z-Average（Z均粒径）和PDI（多分散指数）。分布拟合算法（常采用NNLS等正则化分布反演算法）：输出粒径分布图，包含峰值粒径（PeakSize）及各组分的占比。拟合算法的选择两种算法的本质区别Z-Average依据ISO22412:2025标准，仅截取自相关函数截距10%以内的早期衰减区间，进行单指数模型拟。...

马尔文帕纳科最新推出的X射线吸收谱XAS测试模块，搭载于多功能X射线粉末平台Empyrean锐影之上，一机双析——让科研人员可以在自有实验室的同一平台上完成XRD和XAS测试。这一创新让科学家可以轻松获取普通衍射技术无法得到的例如材料氧化态、局域结构及化学状态信息。而且得益于Empyrean锐影的平台技术，集成XAS、XRD、X射线散射、对分布函数（PDF），以及三维成像（CT）分析技术，轻松建立材料化学信息与晶体学的关联。图1Empyrean锐影XAS配置图马尔文帕纳科实验...