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荧光x射线分析中的两大误区

发布时间:2015-07-08   点击次数:892次

误区1:标样制备太麻烦,用无标样法

       荧光x射线分析事实上是一种对比分析,特别是经验系数法,测得的X射线强度与相应元素浓度的对应关系完全是建立在标准样品的基础之上的,必须制备足够数量的标准样品,标样的质量直接决定了分析结果的可靠性。基本参数法等无标样分析法一般是用于完全未知样品的初步分析的,所谓无标样也只是不需要系列标准样而已。

误区2:标准样品可以购买别人的

      由于每个用户的原料情况、配比是各不相同的,而对于X荧光分析而言,标样与被测未知样越相似,测定结果越好,因此,为了取得好的分析结果,各用户应自己配制标样。标样的配置应注意几个问题:

a、必须主要用生产用原料配制,个别少量组份可用化学试剂;

b、标样数目应大于被分析元素个数(至少多两个);

c、标样中被测元素的含量范围应完全覆盖未知样品相应元素的浓度变化范围;

d、标样中各被测元素的浓度之间不应存在相关性。

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