X射线荧光光谱仪是一种用于快速、无损分析材料元素组成及含量的精密分析仪器，广泛应用于地质矿产、冶金、环境监测、石油化工、电子电器、建筑材料、考古及RoHS合规检测等领域。其工作原理基于X射线激发样品中原子产生特征荧光辐射，通过检测不同元素发出的特征X射线能量或波长，实现定性与定量分析。该仪器具有无需复杂前处理、分析速度快（数秒至数分钟）、样品无损、可测固体/液体/粉末等多种形态等优点。在RoHS指令检测中，XRF被广泛用于筛查电子产品中的有害元素（如Pb、Cd、Hg、Cr⁶⁺...

纳米粒度电位仪是一种用于精确表征纳米及亚微米级颗粒在液体中物理化学特性的精密分析仪器，主要功能是同步测定颗粒粒径分布和Zeta电位（表面电势），广泛应用于生物医药、纳米材料、化工、食品、环境科学及化妆品等领域的研发与质量控制。该仪器基于两大核心技术：动态光散射（DLS）。在DLS模式下，激光照射悬浮颗粒，因布朗运动导致散射光强度产生波动，通过自相关函数分析可计算出颗粒的扩散速度，再依据Stokes-Einstein方程得出流体力学直径，测量范围通常为0.3nm至10μm，适用...

本文摘要被称为“电子工业大米”的多层陶瓷电容器（MLCC）是全球用量最大的被动元件之一，随着5G手机、AI芯片等应用的普及，MLCC的用量更是呈现高速增长。作为MLCC的核心功能材料——钛酸钡（BaTiO3）的化学计量比直接决定了电子元器件的性能。本文通过具体实验展示了X射线荧光（XRF）技术采用熔融制样方法实现钛酸钡材料高精度钡钛比（Ba/Ti）测试，方法快速准确、稳定性好，更适用于工业生产质量控制。背景随着电子信息产业的迅猛发展，钛酸钡(BaTiO₃)基电子陶瓷凭借其优异...

纳米粒度电位仪是一种用于精确表征纳米及亚微米级颗粒在液体中物理化学特性的精密分析仪器，主要功能是同步测定颗粒粒径分布和Zeta电位（表面电势），广泛应用于生物医药、纳米材料、化工、食品、环境科学及化妆品等领域的研发与质量控制。该仪器基于两大核心技术：动态光散射（DLS）。在DLS模式下，激光照射悬浮颗粒，因布朗运动导致散射光强度产生波动，通过自相关函数分析可计算出颗粒的扩散速度，再依据Stokes-Einstein方程得出流体力学直径，测量范围通常为0.3nm至10μm，适用...

01什么是D10、D50和D90？动态光散射（DLS）用于表征纳米及胶体颗粒粒径，粒度结果可按光强、体积、数量三种维度输出，分别对应Di、Dv和Dn：Di（光强分布）：基于颗粒散射光强度占比计算。大颗粒散射更强，易主导结果。光强分布是DLS的原始结果，仅需分散剂的黏度和折射率；Dv（体积分布）：基于颗粒体积占比。通过Mie理论，将光强分布转化为体积分布。除了分散剂的参数以外，还需要材料的光学参数（折射率和吸收率）；Dn（数量分布）：基于颗粒数量占比。虽然软件可以提供数量分布，...