本期推文中，我们汇总软硬件的常见问题，继续盘点“XRF云答疑”的专家回复。期待这些Tips对您的日常分析工作有所助益。XRF系列硬件相关FAQ01问FPC探测器测量结果精密度差可能存在问题，怎么解决，现有备件高压分配板，前置信号放大板，应该更换哪个，积分板没有，是否需要购买？答流气探测器（FPC）测量结果精密度差可能的原因有：阳极丝污染，探测器能量分辨率变差；探测器高压板故障；探测器前置放大板故障。该故障需维修工程师携备件上门逐一排查，积分板（DMCA）出故障的概率非常小，可...

本文摘要硫化物固态电解质具有媲美液态电解质的超高离子电导率，是最具产业化潜力的核心材料之一。从粉碎到涂布，获得可靠的粉体粒径分布数据是确保固态电池质量的关键，也是固态电解质走向市场的前提。本文通过对分散介质、添加剂、超声能量等不同方案的实验探讨，得出可复现、可推广的Mastersizer3000plus硫化物电解质粒径测试方案。背景：硫化物固态电解质的表征挑战全固态锂电池凭借其高能量密度与本质安全性，被誉为下一代动力电池的终极解决方案。其中，硫化物固态电解质因其媲美液态电解质...

本文摘要铝土矿元素分析贯穿地质勘探—资源评价—采矿选矿—冶炼加工—产品质量—环保处置—综合利用全产业链，是实现铝土矿高效、经济、绿色、可持续开发利用的核心技术支撑。为对铝土矿原料进行精准质量控制，不仅需要监测Al元素的含量，Si、Fe、Ti等其他元素的含量也至关重要。本应用报告介绍了采用Epsilon4能量色散X射线荧光（EDXRF）光谱仪结合Claisse的Eagon2电控熔融制样机，对熔融制备的铝土矿样品中主量元素与次要元素进行分析的方法。样品制备使用7种有证标准物质（C...

本文中将介绍在开发XRF分析方法做回归计算时，该如何选择不同的基体校正方法。此外，还将提供元素之间的干扰线列表，讲解是否所有的元素都需要扣背景，其把握的原则又是什么？01基体校正方法的选择在马尔文帕纳科X射线荧光光谱仪SuperQ软件中有四种基体校正方式，分别是：经验系数法基本参数法理论α系数法内标法经验系数法通常用于粉末压片，标样的数量要足够多。基本参数法通常用于均质样品，例如金属（生铁、铸铁除外），玻璃熔片，要求分析所有的元素，总和应接近100%，可设置手动输入项，如有烧...

工业衍射仪是一种基于X射线衍射原理的高精度分析设备，主要用于检测材料的晶体结构、物相组成、晶粒尺寸及残余应力等关键参数，广泛应用于工业生产、材料研发及质量控制等领域。通常由X射线发生器、测角系统、探测器及数据处理软件四大核心模块构成。X射线发生器采用陶瓷X光管，以铜靶为主流配置，功率范围39kW，可提供稳定的高强度X射线源；测角系统采用光学编码器技术，实现0.0001°角度重现性，支持水平式与立式两种结构，适配不同样品形态；探测器模块包含一维探测器、能量色散阵列探测器及二维半...