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  • 高分辩衍射仪技术参数:1,功率:3kW2,测角仪重现性:0.0001度3,测角仪类型:T-2T4,五维样品台

  • 帕纳科高分辨率x射线衍射仪:高级材料科学和纳米技术,半导体材料研究和生产质量控制,可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如:摇摆曲线分析和倒易空间Mapping,反射率和薄膜相分析,残余应力和织构分析,X'PertPROMRD/XL满足半导体、LED、薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。

  • 帕纳科高分辨率x射线衍射仪:高级材料科学和纳米技术,半导体材料研究和生产质量控制,可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如:摇摆曲线分析和倒易空间Mapping,反射率和薄膜相分析,残余应力和织构分析,X'PertPROMRD/XL满足半导体、LED、薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。

  • 帕纳科高分辨率x射线衍射仪:高级材料科学和纳米技术,半导体材料研究和生产质量控制,可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如:摇摆曲线分析和倒易空间Mapping,反射率和薄膜相分析,残余应力和织构分析,X'PertPROMRD/XL满足半导体、LED、薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。

  • 高分辩衍射仪:高级材料科学和纳米技术,半导体材料研究和生产质量控制,可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如:摇摆曲线分析和倒易空间Mapping,反射率和薄膜相分析,残余应力和织构分析,X'PertPROMRD/XL满足半导体、LED、薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。

  • 高分辩衍射仪:高级材料科学和纳米技术,半导体材料研究和生产质量控制,可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如:摇摆曲线分析和倒易空间Mapping,反射率和薄膜相分析,残余应力和织构分析,X'PertPROMRD/XL满足半导体、LED、薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。

  • X'PertPROMRD/XL高分辩衍射仪:高级材料科学和纳米技术,半导体材料研究和生产质量控制,可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如:摇摆曲线分析和倒易空间Mapping,反射率和薄膜相分析,残余应力和织构分析,X'PertPROMRD/XL满足半导体、LED、薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。

  • 高分辩衍射仪:高级材料科学和纳米技术,半导体材料研究和生产质量控制,可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如:摇摆曲线分析和倒易空间Mapping,反射率和薄膜相分析,残余应力和织构分析,X'PertPROMRD/XL满足半导体、LED、薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。

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