激光粒度分析仪是一种基于光散射原理的高精度颗粒测量仪器，广泛应用于材料科学、工业生产及环境监测等领域。其核心原理是：当激光束照射到颗粒时，会发生衍射和散射现象，散射光的强度与角度分布与颗粒大小密切相关。通过测量不同角度的散射光信号，并利用Mie散射理论或Furanhofer衍射理论进行计算，可精确推导出颗粒的粒径分布。在应用领域方面，激光粒度分析仪发挥着重要作用。在材料科学中，它用于分析金属粉末、陶瓷原料及纳米颗粒的粒度分布，优化材料性能；在工业生产中，它助力涂料、化工及水泥...

X射线荧光光谱仪（XRF）是一种基于X射线激发物质产生特征荧光的分析仪器，通过测量荧光波长和强度实现元素的定性与定量分析。其核心原理是：高能X射线轰击样品时，原子内层电子被击出形成空穴，外层电子跃迁填补时释放特征X射线荧光，不同元素的荧光波长具有唯1性，构成元素分析的“指纹”特征。该仪器具有非破坏性、快速多元素分析的优势。检测范围覆盖原子序数11（钠）至92（铀）的元素，含量检测下限达ppb级，可分析固体、粉末、液体及薄膜样品。例如，在环境监测中，可快速检测土壤、水体中的重金...

纳米粒度电位仪是一种用于测量纳米及亚微米级颗粒粒径、Zeta电位等参数的分析仪器，在化学、材料科学、生物医药等领域应用广泛。该仪器主要基于动态光散射（DLS）、电泳光散射（ELS）和静态光散射（SLS）技术工作。动态光散射通过检测颗粒布朗运动速度计算粒径分布；电泳光散射测量颗粒在外加电场中的迁移率，转化为Zeta电位值；静态光散射则利用散射光强直接测定高分子物质的绝对分子量及第二维利系数。其粒径检测范围通常覆盖0.3nm至10μm，支持低至12μL的微量样品检测，并具备自动化...

X射线荧光光谱仪是一种用于快速、无损分析物质元素组成的先进仪器，在众多领域发挥着关键作用。其工作原理基于X射线荧光现象。当高能X射线照射样品时，样品中的原子内层电子被激发，产生空穴。外层电子跃迁填补空穴，同时释放出具有特定能量的特征X射线荧光。通过探测和分析这些荧光的能量和强度，就能确定样品中存在的元素种类及其含量。XRF具有诸多显著优势。它属于非破坏性分析技术，无需对样品进行复杂的预处理，能保持样品的原始状态，对于珍贵文物、考古样品等的分析尤为适用。分析速度快，可在短时间内...

月壤分析最新突破近日，中科院地质与地球物理研究所岩石圈演化与环境演变全国重点实验室的研究团队（薛丁帅高级工程师和刘艳红高级工程师为并列第一作者）联合中国科学院国家天文台在《AnalyticalChemistry》发表嫦娥六号月背土壤样品的最新研究，使用X射线荧光（XRF）与飞秒激光剥蚀电感耦合等离子体质谱（fsLA-ICP-MS）联用技术，对嫦娥6带回的月背土壤样品中的主量元素、次量元素和痕量元素进行了精准分析，为探索月球起源与演化提供关键数据。2024年6月，嫦娥六号从月球...