以金矿三、四期矿样的物质成分研究进行说明X衍射的工作方法和分析步骤,具体如下：1、矿样特征由于三、四期矿样均为褐色砂状矿样,以氧化物为主,用水析分离后表明三期矿石风化程度较大。2、光谱分析对矿样的平均样品进行光谱分析,确定矿样中大致上所含元素种类。光谱分析结果表明硅、铝、镁、铁含量较高,同时还有其他元素少量或微量。3、化学分析对含量较高的元素进行化学分析,得出元素在矿样中的具体含量。化学分析结果表明矿样的主要元素为二氧化硅,次要元素为铁、氧化铝和氧化镁。三期矿石含硫较低,其他...

1、X荧光光谱仪核查周期X荧光光谱光谱仪经机构检测合格后每3个月进行一次期间核查。2、X荧光光谱仪期间核查的类型采用定值物质进行核查。3、X荧光光谱仪核查内容①PE基质工作曲线用已有的PE基质工作曲线测定PE基质的定值物质6次，其定值为：Cr：600ppm、Cd：310ppm、Hg：600ppm、Pb：620ppm、Br：590ppm，计算出其平均值和相对标准偏差。要求各个元素的平均值落在定值的95-105%之间，相对标准偏差必须小于10%。②PVC基质工作曲线用已有的PVC...

一、进口X射线衍射仪制样中应注意的问题1、样品粉末的粗细：样品的粗细对衍射峰的强度有很大的影响。要使样品晶粒的平均粒径在5μm左右，以保证有足够的晶粒参与衍射。并避免晶粒粗大、晶体的结晶完整，亚结构大，或镶嵌块相互平行，使其反射能力降低，造成衰减作用，从而影响衍射强度。2、样品的择优取向：具有片状或柱状*解理的样品物质，其粉末一般都呈细片状或细律状，在制作样品过程中易于形成择优取向，形成定向排列，从而引起各衍射峰之间的相对强度发生明显变化，有的甚至是成倍地变化。对于此类物质，...

由于产生误差的原因不同,能量色散型X荧光光谱仪各种误差具有不同的性质,显示出不同的基本特征。通常将误差分为系统误差、随机误差与过失误差三类。(1)系统误差由于在能量色散型X荧光光谱仪测定过程中某些固定的原因,造成测定结果经常性偏高或偏低,出现比较恒定的正误差或负误差,这种误差称为系统误差,或者称为固定误差、可测误差,它是测定结果中的主要误差来源。系统误差的特点是,这种误差在测定过程中按一定规律重复出现,并具有一定的方向性,表现为测定结果经常性偏高或偏低,增加测定次数并不能减少...

一、检测元素范围一般来说,波谱仪可探测的zui轻元素为铍,能谱仪可检测到硼元素,而实际上,波谱仪一般也只测到硼。对于原子序数小于10的超轻元素,过去多采用硬脂酸铅晶体分光,对氮、氢等元素的探测效率较低,现在使用人工沉积的多层膜晶体,使探测效率提高很多。图1显示了用硬脂酸铅晶体(STE)与W2C多层膜晶体(LDEB)对硼元素的测试结果。二者的实验条件相同,图的纵坐标为X2射线强度。可以看到,用多层膜测得的强度比硬脂酸铅提高了五倍多,峰背比改善更大,对其它超轻元素的测量都有类似的...