X射线荧光光谱仪,尤其是顺序式X射线荧光光谱仪,每一个测量过程都有许多部件在动作,精密度测试即测试这些部件的到位精密度。计量方法:连续测量20次,每次测量都改变机械设置条件,包括晶体、计数器、准直器、2Η角度、滤波片、衰减器和样品转台位置等,精密度以相对标准偏差RSD表示,要求RSD≤2.0√N1/2×100%(N为平均累计计数)。波长色散X射线荧光光谱仪在平均累计计数为1910354时的相对标准偏差为0.09%,精密度限值为0.14%。在澳大利亚标准中要求对每一个运动部件分...

以金矿三、四期矿样的物质成分研究进行说明X衍射的工作方法和分析步骤,具体如下：1、矿样特征由于三、四期矿样均为褐色砂状矿样,以氧化物为主,用水析分离后表明三期矿石风化程度较大。2、光谱分析对矿样的平均样品进行光谱分析,确定矿样中大致上所含元素种类。光谱分析结果表明硅、铝、镁、铁含量较高,同时还有其他元素少量或微量。3、化学分析对含量较高的元素进行化学分析,得出元素在矿样中的具体含量。化学分析结果表明矿样的主要元素为二氧化硅,次要元素为铁、氧化铝和氧化镁。三期矿石含硫较低,其他...

1、X荧光光谱仪核查周期X荧光光谱光谱仪经机构检测合格后每3个月进行一次期间核查。2、X荧光光谱仪期间核查的类型采用定值物质进行核查。3、X荧光光谱仪核查内容①PE基质工作曲线用已有的PE基质工作曲线测定PE基质的定值物质6次，其定值为：Cr：600ppm、Cd：310ppm、Hg：600ppm、Pb：620ppm、Br：590ppm，计算出其平均值和相对标准偏差。要求各个元素的平均值落在定值的95-105%之间，相对标准偏差必须小于10%。②PVC基质工作曲线用已有的PVC...

一、进口X射线衍射仪制样中应注意的问题1、样品粉末的粗细：样品的粗细对衍射峰的强度有很大的影响。要使样品晶粒的平均粒径在5μm左右，以保证有足够的晶粒参与衍射。并避免晶粒粗大、晶体的结晶完整，亚结构大，或镶嵌块相互平行，使其反射能力降低，造成衰减作用，从而影响衍射强度。2、样品的择优取向：具有片状或柱状*解理的样品物质，其粉末一般都呈细片状或细律状，在制作样品过程中易于形成择优取向，形成定向排列，从而引起各衍射峰之间的相对强度发生明显变化，有的甚至是成倍地变化。对于此类物质，...

由于产生误差的原因不同,能量色散型X荧光光谱仪各种误差具有不同的性质,显示出不同的基本特征。通常将误差分为系统误差、随机误差与过失误差三类。(1)系统误差由于在能量色散型X荧光光谱仪测定过程中某些固定的原因,造成测定结果经常性偏高或偏低,出现比较恒定的正误差或负误差,这种误差称为系统误差,或者称为固定误差、可测误差,它是测定结果中的主要误差来源。系统误差的特点是,这种误差在测定过程中按一定规律重复出现,并具有一定的方向性,表现为测定结果经常性偏高或偏低,增加测定次数并不能减少...