纳米粒度电位仪是一种用于化学领域的分析仪器，主要用于测量纳米级和亚微米级固体颗粒、乳液的粒度分布以及Zeta电位。通过动态光散射（DLS）等技术，该仪器能够准确、快速地分析样品的粒径大小和分布，同时测定颗粒表面的Zeta电位，从而了解颗粒的稳定性和表面电荷情况。纳米粒度电位仪利用动态光散射原理，通过测量散射光的强度和波动来推算颗粒的粒径大小和分布。当激光束照射到颗粒样品上时，颗粒会散射光，散射光的强度与颗粒的大小和数量有关。通过分析散射光的波动情况，可以得到颗粒的粒径分布信息...

x射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。其基本原理是利用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出次级X射线，即X射线荧光。当这些高能射线与样品中的原子相互作用时，会将原子内层的电子击出，导致外层电子跃迁到内层。当外层电子返回基态时，会释放出特征X射线，这些特征X射线的能量或波长与元素的种类有关。通过检测这些特征X射线，可以确定样品中存在的元素种类及其含量。x射线荧光光谱仪的具体特性：1、非破坏性：在分析过程中不会对样品造成破坏，这对于珍贵或不复制的样品尤为重要。2...

激光喷雾粒度仪是一种高精度仪器，专门用于测量微米级颗粒的粒度分布。基于激光散射原理工作。当一束激光照射到喷雾中的颗粒时，颗粒会对激光产生散射。散射光的强度和角度与颗粒的大小、形状、折射率等因素有关。通过测量不同角度上的散射光强度，可以得到颗粒的粒度分布信息。激光喷雾粒度仪通常由激光器、探测器、数据处理系统等部分组成。激光器发出激光，经过聚焦后照射到正在喷雾的颗粒上。产生的散射光被探测器接收，并转换为电信号。数据处理系统则对电信号进行处理和分析，最终得出颗粒的粒度分布、平均粒径...

本文摘要利用XRF方法分析Li-NCM正极材料，已被证实具有非常好的精度和准确度，可以高通量测试并获得与ICP相媲美的高质量的分析结果。那么利用占地更小、更经济、更易操作的能量色散型X射线荧光光谱仪是否可以呢？本文将介绍马尔文帕纳科高性能EDXRF--Epsilon4在同类型正极材料元素分析中的实验结果。在上一篇题为“XRF分析镍钴锰正极材料及其前驱体的元素成分”的推文中，我们介绍了利用NCM标准物质校准套装结合马尔文帕纳科高精度熔融设备和波长色散X射线荧光光谱仪Zetium...

本文摘要在肿瘤治疗中展现强大治疗潜力的ADC药物，其大规模商业化很大程度上是基于偶联技术的突破，更智能的连接子真正实现药物的精准释放，让ADC药物的疗效和安全性得到了显著的提升。为应对ADC药物高研发成本，降低失败风险，表征关键质量属性（CQAs）是此类药物研发生产的关键所在。本文介绍了马尔文帕纳科贯穿ADC药物研发全过程的多种表征技术及其在评估结合活性、优化稳定性及控制颗粒形成等领域的相关应用。近年来，抗体偶联药物（Antibody-DrugConjugates,ADCs）...