粒度仪数据反映颗粒的大小分布，而分形维数则是对这种分布背后“形态复杂性”的量化。通过计算分形维数，能从传统粒度分析中挖掘出更深层的结构信息，为理解颗粒的形成机制、优化制备工艺、预测性能提供重要依据。本文中将介绍利用MS3000粒度仪测试数据计算分形维数的操作步骤。什么是分形维数？分形（fractal）理论是为描述具有自相似性自然碎片或不规则结构而提出的。例如土壤粒径、颗粒表面积、颗粒体积和孔隙大小等具有自相似特征，应用分形理论来定量描述土壤形态和性质已成为土壤科学研究的重要方...

近日，第十八届药机展（PMEC2025）在上海新国际博览中心落下帷幕，马尔文帕纳科携麦克默瑞提克在此次展会所展示的颗粒、粉体等先进表征技术备受业内人士关注。稍显遗憾的是很多行业客户没有办法到现场参观交流，且由于展位面积有限，更多产品和方案没有办法现场展示。为了让大家更多地了解马尔文帕纳科和麦克应用于医药行业的产品和解决方案，本文将整理摘录完整的医药行业方案，并在文中附上马尔文帕纳科和麦克默瑞提克制药行业产品手册，您可点击下载了解详情。仪器设备和检测技术贯穿医药产业链的研发、生...

针对半导体行业，马尔文帕纳科最新推出的高速晶向定位系列解决方案，可实现从全自动的在线分析到晶圆材料的快速质量检查，覆盖从晶棒-铸锭-切片和晶圆制程的全部应用。利用XRD分析技术在晶圆生产的全部流程中，提供简单、快速、高精度的晶体定向测量，大大提高产品良率。小巧多工的DDCOM和SDCOM系列能够在不影响精度的情况下高速完成测量，Omega/ThetaXRD系列在晶格测定方面可提供超高的测量精度和速度，WaferXRD系列利用晶圆端控制的高级分拣选项提供高通量筛选，XRD-OE...

纳米颗粒跟踪分析仪是一种基于纳米颗粒跟踪分析（NTA）技术的高精度物理性能测试仪器，主要用于测量纳米颗粒的粒径、浓度及Zeta电位等多参数信息。该仪器通过激光照射纳米颗粒悬浮液，利用高分辨率显微镜捕捉颗粒的布朗运动轨迹，并结合专用软件分析粒径分布。其核心在于通过追踪单个颗粒的随机运动，结合斯托克斯-爱因斯坦方程，推算出颗粒的流体力学半径，实现高精度测量。部分仪器还集成了微电泳技术，可同步测定Zeta电位，反映颗粒表面电荷特性。为确保测量结果的准确性和可靠性，纳米颗粒跟踪分析仪...

本文摘要SiC端面倾角度数会影响晶体生长动力学、界面特性和器件的电场分布，决定了SiC功率器件的性能，倾角控制精度已从“工艺参数”升级为“核心竞争力”，本文将介绍4°倾角及其方向的重要性，以及马尔文帕纳科高精度晶向定位仪Omega/theta如何帮助SiC衬底量产保持高的倾角控制技术。01丨碳化硅的生长模式无论是PVT还是HTCVD生长碳化硅单晶，都涉及到了气固相变。所以，这个生长具有三种模式：岛状生长（Volmer-Weber，VW）、层状生长（Frankvander-Me...