针对半导体行业，马尔文帕纳科最新推出的高速晶向定位系列解决方案，可实现从全自动的在线分析到晶圆材料的快速质量检查，覆盖从晶棒-铸锭-切片和晶圆制程的全部应用。利用XRD分析技术在晶圆生产的全部流程中，提供简单、快速、高精度的晶体定向测量，大大提高产品良率。小巧多工的DDCOM和SDCOM系列能够在不影响精度的情况下高速完成测量，Omega/ThetaXRD系列在晶格测定方面可提供超高的测量精度和速度，WaferXRD系列利用晶圆端控制的高级分拣选项提供高通量筛选，XRD-OE...

纳米颗粒跟踪分析仪是一种基于纳米颗粒跟踪分析（NTA）技术的高精度物理性能测试仪器，主要用于测量纳米颗粒的粒径、浓度及Zeta电位等多参数信息。该仪器通过激光照射纳米颗粒悬浮液，利用高分辨率显微镜捕捉颗粒的布朗运动轨迹，并结合专用软件分析粒径分布。其核心在于通过追踪单个颗粒的随机运动，结合斯托克斯-爱因斯坦方程，推算出颗粒的流体力学半径，实现高精度测量。部分仪器还集成了微电泳技术，可同步测定Zeta电位，反映颗粒表面电荷特性。为确保测量结果的准确性和可靠性，纳米颗粒跟踪分析仪...

本文摘要SiC端面倾角度数会影响晶体生长动力学、界面特性和器件的电场分布，决定了SiC功率器件的性能，倾角控制精度已从“工艺参数”升级为“核心竞争力”，本文将介绍4°倾角及其方向的重要性，以及马尔文帕纳科高精度晶向定位仪Omega/theta如何帮助SiC衬底量产保持高的倾角控制技术。01丨碳化硅的生长模式无论是PVT还是HTCVD生长碳化硅单晶，都涉及到了气固相变。所以，这个生长具有三种模式：岛状生长（Volmer-Weber，VW）、层状生长（Frankvander-Me...

X射线衍射仪是一种利用X射线衍射原理来精确测定物质的晶体结构、织构及应力，进行物相分析、定性分析、定量分析的仪器。其基本原理是：当一束X射线照射到晶体物质上时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射。衍射线在空间分布的方位和强度与晶体结构密切相关，不同的晶体物质具有自己独t的衍射图样。通过分析这些衍射图样，可以获得物质的晶体结构信息。以下是X射线衍射仪的安装...

纳米颗粒跟踪分析仪是一种基于纳米颗粒跟踪分析（NTA）技术的物理性能测试仪器，在科研和工业领域发挥着重要作用。该仪器通过激光照射含有纳米颗粒的样品池，颗粒散射的光被显微镜捕捉并由相机记录，形成颗粒运动的视频。专用软件逐帧分析视频，自动识别并跟踪每个颗粒的移动路径，计算其扩散系数，再通过斯托克斯-爱因斯坦方程推算粒径。其核心光学系统包含激光散射视频显微镜和高灵敏度CMOS传感器，支持10-2000nm粒径检测范围，具备荧光检测功能，可支持430/565/650nm多波长检测，能...