激光粒度仪是一种基于激光散射原理，用于测量颗粒大小和分布的精密仪器。其工作原理是利用激光的散射现象来测量颗粒的大小。当激光照射到颗粒上时，会发生散射现象，散射光的强度和角度与颗粒的大小、形状、折射率等因素有关。仪器通过收集和分析散射光的信号，来确定颗粒的大小分布。具体来说，激光粒度仪通常由激光器、样品池、光学系统、探测器和数据处理系统等组成。激光器发出的激光经过光学系统聚焦后，照射到样品池中的颗粒上。颗粒散射的光被光学系统收集，并聚焦到探测器上。探测器将光信号转换成电信号，数...

x射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。其基本原理是利用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出次级X射线，即X射线荧光。当这些高能射线与样品中的原子相互作用时，会将原子内层的电子击出，导致外层电子跃迁到内层。当外层电子返回基态时，会释放出特征X射线，这些特征X射线的能量或波长与元素的种类有关。通过检测这些特征X射线，可以确定样品中存在的元素种类及其含量。x射线荧光光谱仪的结构介绍：1、主控制台功能模块：主控制台是核心部分，包括检测、控制、数据处理等功能模块，负责...

粉末衍射仪，特别是粉末X射线衍射仪，是一种基于X射线衍射原理的重要分析仪器，在材料科学、化学、物理等多个领域发挥着举足轻重的作用。其工作原理是利用具有一定发散度的特征X光束照射多晶平板样品。多晶平板样品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所产生的衍射线将在适当的方位聚焦而形成衍射强峰。这些被聚焦的衍射线所对应的同名晶面或等同晶面与光源和接收狭缝处在同一聚焦圆周上。在测角仪扫描过程中，聚焦圆的半径会不断改变，但在样品一定深度范围内总是存在与聚焦圆吻合的弧面。这些满足...

X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法，在多个领域有着广泛的应用。其基本原理是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出次级X射线，即X射线荧光。这些次级X射线具有特定的能量或波长特性，与元素的种类有关。因此，通过测量这些次级X射线的能量或波长，可以确定样品中存在的元素种类及其含量。X射线荧光光谱仪的维护保养至关重要，以下是一些关键的维护保养措施：1、仪器清洁：定期使用无纺布或棉布擦拭仪器的外表面，以保持其干净。在清洁过程中，禁止使用含有溶剂的清洁剂，以免损坏仪器...

在上一篇“MP工具箱”文章中，我们介绍了马尔文帕纳科纳米粒度电位仪Zetasizer的粒径测试报告中的的参数都代表了哪些含义，那么如何判断纳米粒度仪测试结果的质量呢？本文将就此问题给出解答。在判别Zetasizer纳米粒度电位仪的测试结果前，我们要确保所测试的样品浓度合适。对于大多数刚性纳米粒子来说，在合适的浓度范围内，粒径大小是不随浓度变化的。通常适合测试的样品为半透明或接近透明状态。还可以通过对countrate（测试光强）和attenuator（衰减器编号）等参数来考察...