X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法，在多个领域有着广泛的应用。其基本原理是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出次级X射线，即X射线荧光。这些次级X射线具有特定的能量或波长特性，与元素的种类有关。因此，通过测量这些次级X射线的能量或波长，可以确定样品中存在的元素种类及其含量。X射线荧光光谱仪的维护保养至关重要，以下是一些关键的维护保养措施：1、仪器清洁：定期使用无纺布或棉布擦拭仪器的外表面，以保持其干净。在清洁过程中，禁止使用含有溶剂的清洁剂，以免损坏仪器...

在上一篇“MP工具箱”文章中，我们介绍了马尔文帕纳科纳米粒度电位仪Zetasizer的粒径测试报告中的的参数都代表了哪些含义，那么如何判断纳米粒度仪测试结果的质量呢？本文将就此问题给出解答。在判别Zetasizer纳米粒度电位仪的测试结果前，我们要确保所测试的样品浓度合适。对于大多数刚性纳米粒子来说，在合适的浓度范围内，粒径大小是不随浓度变化的。通常适合测试的样品为半透明或接近透明状态。还可以通过对countrate（测试光强）和attenuator（衰减器编号）等参数来考察...

本文摘要国家发改委于2005年发布了《工业用精对苯二甲酸粒度分布的测定激光衍射法》的中华人民共和国石油化工行业标准SH/T1612.8-2005。本文报告了使用马尔文帕纳科MS3000激光粒度仪按照标准方法对PTA样品所进行的实验过程，结果符合标准要求。对苯二甲酸PTA是重要的化工产品，主要用于生产聚酯和增塑剂。而粒度分布是其重要的产品指标。根据《工业用精对苯二甲酸粒度分布的测定激光衍射法》的中华人民共和国石油化工行业标准SH/T1612.8-2005。马尔文帕纳科MS300...

纳米粒度电位仪是一种用于化学领域的分析仪器，主要用于测量纳米级和亚微米级固体颗粒、乳液的粒度分布以及Zeta电位。通过动态光散射（DLS）等技术，该仪器能够准确、快速地分析样品的粒径大小和分布，同时测定颗粒表面的Zeta电位，从而了解颗粒的稳定性和表面电荷情况。纳米粒度电位仪利用动态光散射原理，通过测量散射光的强度和波动来推算颗粒的粒径大小和分布。当激光束照射到颗粒样品上时，颗粒会散射光，散射光的强度与颗粒的大小和数量有关。通过分析散射光的波动情况，可以得到颗粒的粒径分布信息...

纳米粒度电位仪是一种高度专业化的分析仪器，广泛应用于化学、生物学、材料科学、化学工程、环境科学技术及资源科学技术等多个学科领域。主要用于测量纳米级和亚微米级颗粒的粒径分布以及颗粒表面的Zeta电位。通过测量粒径分布，可以了解颗粒的大小、形状和分散性，这对于评估颗粒的稳定性和性能至关重要。而Zeta电位的测量则有助于了解颗粒表面的电荷性质，从而推断颗粒之间的相互作用和分散稳定性。以下是纳米粒度电位仪操作指南的具体内容：1、准备工作检查电源与连接：确保仪器的电源线连接正常，避免因...