纳米粒度电位仪是一种在科研和工业领域广泛使用的精密物理测量工具，能够准确测量纳米级别的颗粒大小和电位变化。其基于电学和纳米技术的结合，通过电泳和沉降原理来测量颗粒的大小和电位。在电场作用下，颗粒会受到电场力的作用而发生移动，其移动速度与颗粒的大小、形状和电荷量有关。通过测量颗粒在电场中的移动速度，可以推算出颗粒的大小和电位。具体来说，激光散射技术用于测量颗粒的尺寸分布，而电泳技术则用于测量颗粒的表面电荷性质，即Zeta电位。纳米粒度电位仪其结构主要包括以下几个部分：1、光学系...

微量热差示扫描量热仪是一种先进的热分析仪器，它在材料科学、化学、药物研发、食品工业及能源领域等多个方面发挥着重要作用。其工作原理基于比较样品与参比物在相同加热或冷却条件下的热流差异。当样品发生物理或化学变化时，如熔融、结晶、玻璃化转变等，会吸收或释放热量，导致与参比物的热流产生偏差。DSC通过精确测量这种偏差，并将其转化为热流随温度或时间变化的曲线，从而提供丰富的物质信息。以下是关于微量热差示扫描量热仪结构的详细说明：一、主要组成部分1、传感器单元测温传感器：通常采用高精度的...

磨料用SiO2浆料的颗粒粒度对硅晶片的微观形貌有直接影响，进而会影响到后续工序电介质膜的均匀性；此外，浆料的稳定性也会影响晶片抛光过程，所以磨料的颗粒表征非常重要，本文介绍了利用动态光散射技术（DLS）和电泳光散射技术（ELS）对硅基浆料的颗粒粒度和Zeta电位进行表征的实验及结果讨论。01丨背景介绍磨料浆液用于去除硅晶片表面的材料和不规则形貌。这样做是为了在硅片表面形成附加电路元件。晶片的微观形貌与所用浆料的粒度分布有关，因为粒度会影响随后加工的电介质膜的均匀性[1]。浆料...

激光粒度分布仪是一种集光、机、电、计算机为一体的高科技产品，工作原理基于光散射原理。当激光照射到颗粒上时，会产生衍射和散射现象。不同粒径的颗粒会产生不同的散射光分布，通过检测这些散射光的分布，可以反推出颗粒的粒径分布。具体来说，激光粒度分布仪通过收集和分析散射光的信号，来确定颗粒的大小分布。通常由激光器、样品池、光学系统、探测器和数据处理系统等部分组成。激光器发出的激光经过光学系统聚焦后，照射到样品池中的颗粒上。颗粒散射的光被光学系统收集，并聚焦到探测器上。探测器将光信号转换...

除了化学性之外，金属粉末的物理特性还决定这增材制造的性能，包括粉末的整体特性和单个金属颗粒的特性。关键的整体特性是指堆积密度和流动性。堆积密度和流动性受颗粒粒度和形状等形态特性的影响。本文将介绍颗粒粒度颗粒大小与形状与粉末关键特性的关系，及其测量手段。01丨颗粒形状和粉末流动性的关系金属粉末关键的整体特性是堆积密度和流动性。堆积一致可提供高密度粉末，确保生产的组件缺陷少、质量一致。另一方面，流动性与工艺效率有着更密切的联系。影响流动性的颗粒特性包括刚度、孔隙度、表面织构、密度...