用于晶体取向测量的SDCOM小型衍射仪 用于单晶（晶锭和晶圆）的材料研究、生产和质量控制的台式XRD设备。 Si | SiC | 金刚石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO₃ | bbo | GaN 和其他一百多种材料。

Wafer XRD Panalytical X射线技术 用于全自动晶圆拣选、生产和质量控制。

Omega/Theta Panalytical X射线技术 最高精度，最大灵活性

XRD 系列 晶圆和铸锭快速准确的晶向定位 从全自动的在线分析到晶圆材料的快速质量检查,我们的晶向定位解决方案在设计时考虑到了晶棒、铸锭、切片和晶圆的全部应用场景。此系列产品利用XRD分析技术在晶圆生产的全部流程中，提供简单、快速、高精度的晶体定向测量，大大提高产品良率。

马尔文帕纳科工业X射线衍射仪符合X 射线和运动安全规范，且具有环保和可靠性能，其可靠性的增强及性能的改进提高了分析能力，提供一体化解决方案来满足不同需求和应用。