纳米颗粒跟踪分析仪是一种基于纳米颗粒跟踪分析（NTA）技术的物理性能测试仪器，通过追踪纳米颗粒的布朗运动和光散射特性，实现粒径、浓度及Zeta电位等多参数测量。该仪器核心光学系统包含激光散射视频显微镜和高灵敏度CMOS传感器，支持10-2000nm粒径检测范围，并具备荧光检测功能。其工作原理是通过激光束照射纳米颗粒悬浮液，利用显微镜捕捉颗粒散射光形成的移动光点，相机以每秒约30帧的速度记录颗粒布朗运动轨迹，专用软件通过斯托克斯-爱因斯坦方程推算粒径分布，精度可达4nm，同时提...

纳米颗粒跟踪分析仪是一种基于纳米颗粒跟踪分析（NTA）技术的物理性能测试仪器，通过追踪纳米颗粒的布朗运动和光散射特性，实现粒径、浓度及Zeta电位等多参数测量。该仪器利用激光散射视频显微镜和高灵敏度CMOS传感器，捕捉纳米颗粒在液体中的布朗运动轨迹。通过分析颗粒的扩散系数，结合斯托克斯-爱因斯坦方程，计算其流体力学直径，精度可达4nm。同时，支持荧光检测功能，可识别荧光标记颗粒，实现多参数同步分析。以下是纳米颗粒跟踪分析仪其主要结构特点：一、高精度光学系统：实现单颗粒可视化光...

激光粒度分析仪是一种基于光散射原理的高精度颗粒测量仪器，广泛应用于材料科学、工业生产及环境监测等领域。其核心原理是：当激光束照射到颗粒时，会发生衍射和散射现象，散射光的强度与角度分布与颗粒大小密切相关。通过测量不同角度的散射光信号，并利用Mie散射理论或Furanhofer衍射理论进行计算，可精确推导出颗粒的粒径分布。在应用领域方面，激光粒度分析仪发挥着重要作用。在材料科学中，它用于分析金属粉末、陶瓷原料及纳米颗粒的粒度分布，优化材料性能；在工业生产中，它助力涂料、化工及水泥...

X射线荧光光谱仪（XRF）是一种基于X射线激发物质产生特征荧光的分析仪器，通过测量荧光波长和强度实现元素的定性与定量分析。其核心原理是：高能X射线轰击样品时，原子内层电子被击出形成空穴，外层电子跃迁填补时释放特征X射线荧光，不同元素的荧光波长具有唯1性，构成元素分析的“指纹”特征。该仪器具有非破坏性、快速多元素分析的优势。检测范围覆盖原子序数11（钠）至92（铀）的元素，含量检测下限达ppb级，可分析固体、粉末、液体及薄膜样品。例如，在环境监测中，可快速检测土壤、水体中的重金...

纳米粒度电位仪是一种用于测量纳米及亚微米级颗粒粒径、Zeta电位等参数的分析仪器，在化学、材料科学、生物医药等领域应用广泛。该仪器主要基于动态光散射（DLS）、电泳光散射（ELS）和静态光散射（SLS）技术工作。动态光散射通过检测颗粒布朗运动速度计算粒径分布；电泳光散射测量颗粒在外加电场中的迁移率，转化为Zeta电位值；静态光散射则利用散射光强直接测定高分子物质的绝对分子量及第二维利系数。其粒径检测范围通常覆盖0.3nm至10μm，支持低至12μL的微量样品检测，并具备自动化...