X射线荧光光谱仪是一种基于X射线激发原理的非破坏性分析仪器，通过测量物质受激发后产生的特征X射线荧光，实现元素定性与定量分析。其核心原理为：高能X射线或伽马射线轰击样品时，样品中原子内层电子被击出，形成空穴，外层电子跃迁填补空穴时释放特征X射线。不同元素的特征X射线具有特定能量或波长，探测器捕获这些信号后，仪器软件将其转化为元素种类及含量信息。X射线荧光光谱仪其主要技术特点如下：1、分析速度快，效率高XRF分析过程非常迅速，通常在10秒到几分钟内即可完成对样品中多种元素的同时...

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纳米颗粒跟踪分析仪是一种基于纳米颗粒跟踪分析（NTA）技术的高精度物理性能测试仪器，通过追踪纳米颗粒的布朗运动和光散射特性，实现粒径、浓度及Zeta电位等多参数同步测量，广泛应用于生物医药、材料科学、环境监测等领域。技术原理：NTA技术结合激光散射与视频显微技术，利用纳米颗粒在液体中的布朗运动特性进行表征。激光束照射样品池后，颗粒散射的光被显微镜捕捉，高速摄像头（如CMOS传感器）以每秒30帧的频率记录颗粒运动轨迹。通过分析扩散系数并结合斯托克斯-爱因斯坦方程，可计算出颗粒的...

激光粒度分布仪是一种利用激光散射原理测量颗粒大小分布的精密仪器，其核心原理基于米氏散射理论（MieScatteringTheory）——当激光束照射样品颗粒时，颗粒会使激光产生散射，散射光的强度与角度分布与颗粒大小密切相关。大颗粒产生前向小角度散射且光强较强，小颗粒则使光散射至更广泛角度且光强较弱。通过高灵敏度光电探测器阵列捕获不同角度的散射光信号，结合全Mie散射理论进行复杂计算，仪器可精确反演出颗粒的粒度分布数据。激光粒度分布仪的安装步骤：1、安装前准备人员要求：确保安装...

X射线荧光光谱仪（XRF）是一种基于X射线荧光效应的高精度元素分析仪器，通过测量样品受激发后产生的特征X射线荧光，实现元素的定性与定量分析。其核心原理是利用高能X射线轰击样品，使原子内层电子被击出形成空穴，外层电子跃迁填补时释放出特定能量的X射线荧光，该荧光的能量或波长与元素种类一一对应，强度则反映元素含量。X射线荧光光谱仪的主要结构组成：一、X射线源（激发源）用于产生高能X射线，激发样品中的原子发射特征X射线荧光。X射线管（最常见）：由阴极（灯丝）和阳极（靶材）构成。常用靶...