近日，第十八届药机展（PMEC2025）在上海新国际博览中心落下帷幕，马尔文帕纳科携麦克默瑞提克在此次展会所展示的颗粒、粉体等先进表征技术备受业内人士关注。稍显遗憾的是很多行业客户没有办法到现场参观交流，且由于展位面积有限，更多产品和方案没有办法现场展示。为了让大家更多地了解马尔文帕纳科和麦克应用于医药行业的产品和解决方案，本文将整理摘录完整的医药行业方案，并在文中附上马尔文帕纳科和麦克默瑞提克制药行业产品手册，您可点击下载了解详情。仪器设备和检测技术贯穿医药产业链的研发、生...

针对半导体行业，马尔文帕纳科最新推出的高速晶向定位系列解决方案，可实现从全自动的在线分析到晶圆材料的快速质量检查，覆盖从晶棒-铸锭-切片和晶圆制程的全部应用。利用XRD分析技术在晶圆生产的全部流程中，提供简单、快速、高精度的晶体定向测量，大大提高产品良率。小巧多工的DDCOM和SDCOM系列能够在不影响精度的情况下高速完成测量，Omega/ThetaXRD系列在晶格测定方面可提供超高的测量精度和速度，WaferXRD系列利用晶圆端控制的高级分拣选项提供高通量筛选，XRD-OE...

纳米颗粒跟踪分析仪是一种基于纳米颗粒跟踪分析（NTA）技术的高精度物理性能测试仪器，主要用于测量纳米颗粒的粒径、浓度及Zeta电位等多参数信息。该仪器通过激光照射纳米颗粒悬浮液，利用高分辨率显微镜捕捉颗粒的布朗运动轨迹，并结合专用软件分析粒径分布。其核心在于通过追踪单个颗粒的随机运动，结合斯托克斯-爱因斯坦方程，推算出颗粒的流体力学半径，实现高精度测量。部分仪器还集成了微电泳技术，可同步测定Zeta电位，反映颗粒表面电荷特性。为确保测量结果的准确性和可靠性，纳米颗粒跟踪分析仪...

本文摘要SiC端面倾角度数会影响晶体生长动力学、界面特性和器件的电场分布，决定了SiC功率器件的性能，倾角控制精度已从“工艺参数”升级为“核心竞争力”，本文将介绍4°倾角及其方向的重要性，以及马尔文帕纳科高精度晶向定位仪Omega/theta如何帮助SiC衬底量产保持高的倾角控制技术。01丨碳化硅的生长模式无论是PVT还是HTCVD生长碳化硅单晶，都涉及到了气固相变。所以，这个生长具有三种模式：岛状生长（Volmer-Weber，VW）、层状生长（Frankvander-Me...

X射线衍射仪是一种利用X射线衍射原理来精确测定物质的晶体结构、织构及应力，进行物相分析、定性分析、定量分析的仪器。其基本原理是：当一束X射线照射到晶体物质上时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射。衍射线在空间分布的方位和强度与晶体结构密切相关，不同的晶体物质具有自己独t的衍射图样。通过分析这些衍射图样，可以获得物质的晶体结构信息。以下是X射线衍射仪的安装...