X射线荧光光谱法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性；用于制作校准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。荧光x射线分析实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和沾污。由样品制备和样品自身引起的误差有以下几种：（1）样品的均匀性。（2）样品的表面效应。（...

X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品的常规分析。XRF作为一种无损检测技术，可以直接应用于现场、原位分析，在材料分析领域占有重要地位。一、xrf分析仪的应用领域：1、环境保护：土壤中重金属分析；涂料、油漆、颜料及塑料中有害...

纳米粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器，采用数字相关器的纳米激光粒度仪，其采用高速数字相关器和高性能光电倍增管作为核心器件，具有操作简便、测试快捷、高分辨、高重复及测试准确等特点，是纳米颗粒粒度测试的产品。仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中布朗运动的速度测定颗粒大小。具有原理、精度*的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性。纳米粒度仪优势特点介绍：1、高灵敏度与信噪比：本仪器的探测器采用专业级高性能光电倍增管（PMT），对光子信号...

高分辩衍射仪是可编程序控制器技术及模块化设计理念融入设计中，它的无干扰隔离保护方案使该仪器性能更加优越，故障率极低，并延长整机使用寿命。它的设计精密，硬件、软件、功能齐全，能灵活地适应物质微观结构各种测试、分析和研究工作。高分辩衍射仪主要是用来分析x射线的仪器，给我们具体的的实验和分析数据，帮助我们了解物质的特性和射线的走向。我们用它主要是分析物质成分和元素特性。具体的功用有一些几种：1.物相定量分析：定量分析的任务是确定物质样品，以及样品中各组成相的相对含量。这样有利于确定...

激光粒度仪利用了激光具有的单色性和*的方向性等特性，通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小。对于激光粒度仪的评价主要包括四个方面：重复性、分辨力、准确度、稳定性。1.重复性粒度分布过程中，在短时间内，由同一位操作者、在相同条件下、使用同一台仪器、对同一分散样本进行特性量值的多次测定，其测定结果的一致性程度，此类重复性不包含由于取样和分散造成的变化。2.分辨力粒度分析仪是否能清晰地分辨出由两个或两个以上单一粒径混合成的样品出现双峰或多峰曲线的能力。3.准确度准...