“颗粒知识库”上一篇文章中，我们讲了干法测量中分散压力的选择与评估方法，那么激光粒度仪干法测试结果的准确性除了受分散压力的影响外，还有其他的影响因素，我们又要如何判断结果是否准确呢？让我们接着上一期的话题继续为大家答疑解惑。01丨干法测试的保证一般情况下，为确保干法测试结果的准确，测试过程中需要满足以下三个条件：取样：保证均一性物质参数设置正确：折射率和吸收率测试条件合适：保证良好的进样速度，选择合适的分散压力在满足上述三个条件后，获得良好的数据重现性，数据质量即可确认为可靠...

摘要在锂离子电池正极材料的晶体结构表征中，正极材料中的过渡金属元素与常规铜靶X射线的相互作用易诱发强烈二次荧光效应，导致衍射图谱背景增高，信噪比不佳。是否可以通过更改光路配置，达到高灵敏度和最佳的数据质量？本文通过实际案例为您介绍马尔文帕纳科X射线衍射仪测量正极材料时的最佳光路配置，帮助您在测试中获取更好的数据。1背景介绍X射线衍射（XRD）是分析锂离子电池正极材料的一种重要工具。正极材料，例如常用于电动车（EV）电池的磷酸铁锂（LFP）和三元氧化物（NMC），可能存在阳离子...

纳米粒度电位仪是一种重要的分析仪器，用于测量纳米级别颗粒的大小和电位变化的仪器。其基本原理是利用电泳和沉降原理，通过测量颗粒在电场中的移动速度来推算出颗粒的大小和电位。在电场作用下，颗粒会受到电场力的作用而发生移动，其移动速度与颗粒的大小、形状和电荷量有关。纳米粒度电位仪具有以下技术特点：1、高精度测量粒径测量精度高：采用动态光散射（DLS）等先进技术，能够精确测量纳米颗粒的粒度大小，可检测到小至0.6nm的颗粒，对于大颗粒的测量上限也能达到10μm左右，测量精度通常可达到&...

马尔文帕纳科晶圆分析仪是一种专门用于测量和分析晶圆特性的高精度仪器。其主要用于测量晶圆的多种参数，如层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性等。这些参数对于半导体和数据存储行业至关重要，因为它们直接影响到芯片的性能和可靠性。晶圆分析仪的工作原理主要基于X射线荧光光谱（XRF）技术。该技术利用X射线激发晶圆表面的原子，使其发射出特征荧光光谱。通过分析这些荧光光谱，可以确定晶圆表面的元素组成和含量，进而推导出晶圆的多种参数。马尔文帕纳科晶圆分析仪的性能特点：1、高分辨率成像先进的光学系统...

本文摘要尽管ADC药物被誉为肿瘤治疗的“灵药”，但其研发仍面临多重瓶颈。本文将介绍马尔文帕纳科PEAQ-DSC微量热差式扫描量热仪在ADC药物研发过程中的应用实例，使您充分了解其出色的热分析能力，以及其如何帮助ADC药物研发人员解决难题。尽管ADC药物被誉为肿瘤治疗的“灵药”，但其研发仍面临多重瓶颈：结构复杂性：抗体、连接子、毒素的三元组合对稳定性提出高要求；长期储存难题：高疏水性毒素易引发聚集，缩短药物货架期。工艺一致性：批间差异易导致疗效波动，增加临床失败风险；马尔文帕纳...