X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，可以测定元素含量。近年来，X荧光光谱分析在各行...

X射线荧光光谱分析通过将可选项的精度管理型软件进一步升级,并使之成为标准配备，实现了低价格化。与以往仪器相比，环境管制物质的测量时间大幅缩短，材料辨识功能、分析线切换功能、清晰易懂的操作面板易用性大大提高，分析速度更快，操作更简单。X射线荧光光谱分析是一种常用的分析仪器，主要由激发源和探测系统构成。基本原理就是：X射线管通过产生入射X射线(一次X射线)，来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光)，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量...

Insitec在线粒度分析仪粒度分布的定义所谓粒度分布，就是粉体样品中各种大小的颗粒占颗粒总数的比例。当样品中所有颗粒的真密度相同时，颗粒的重量分布和体积分布一致。在没有特别说明时，仪器给出的粒度分布一般指重量或体积分布。1.公式法表达粒度分布:Rosin-Rammler公式:W(x)=1-exp[-(x/De)^N]式中，De是与x50(中位径)成正比的常数，N则决定粒度分布的范围，N越大，力度分布范围越窄，表示样品中颗粒分布的均匀性越好。2.中位径:中位径记作x50,表示...

X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm，高40mm。X射线荧光光谱仪分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；X射线荧...

zeta电位仪的测量方法：电泳法对许多熟悉利用此法进行高分子分离的人来说，颗粒电泳也是一个类似现象。悬浮于介质中的颗粒被置于一电场中；如果带电他们会在电场产生流动，阳性颗粒朝负极流动，阴性颗粒朝正极流动。然而，颗粒并不是独自流动，他们周围会携带一薄层离子和溶剂。这一分离固定媒介与移动颗粒及其携带的离子和溶剂的界面叫做流体剪切面，而zeta电位正是这一界面的电位。因此zeta电位可以通过测量颗粒在已知电场中的流速来测定。早期的测量仪器（Rank微电泳仪）通过充满误差，慢速度的手...