本文摘要SiC端面倾角度数会影响晶体生长动力学、界面特性和器件的电场分布，决定了SiC功率器件的性能，倾角控制精度已从“工艺参数”升级为“核心竞争力”，本文将介绍4°倾角及其方向的重要性，以及马尔文帕纳科高精度晶向定位仪Omega/theta如何帮助SiC衬底量产保持高的倾角控制技术。01丨碳化硅的生长模式无论是PVT还是HTCVD生长碳化硅单晶，都涉及到了气固相变。所以，这个生长具有三种模式：岛状生长（Volmer-Weber，VW）、层状生长（Frankvander-Me...

X射线衍射仪是一种利用X射线衍射原理来精确测定物质的晶体结构、织构及应力，进行物相分析、定性分析、定量分析的仪器。其基本原理是：当一束X射线照射到晶体物质上时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射。衍射线在空间分布的方位和强度与晶体结构密切相关，不同的晶体物质具有自己独t的衍射图样。通过分析这些衍射图样，可以获得物质的晶体结构信息。以下是X射线衍射仪的安装...

纳米颗粒跟踪分析仪是一种基于纳米颗粒跟踪分析（NTA）技术的物理性能测试仪器，在科研和工业领域发挥着重要作用。该仪器通过激光照射含有纳米颗粒的样品池，颗粒散射的光被显微镜捕捉并由相机记录，形成颗粒运动的视频。专用软件逐帧分析视频，自动识别并跟踪每个颗粒的移动路径，计算其扩散系数，再通过斯托克斯-爱因斯坦方程推算粒径。其核心光学系统包含激光散射视频显微镜和高灵敏度CMOS传感器，支持10-2000nm粒径检测范围，具备荧光检测功能，可支持430/565/650nm多波长检测，能...

激光粒度分布仪是一种用于测量和分析颗粒大小分布的精密仪器，广泛应用于工业生产和科研领域。其核心原理基于激光散射理论，通过激光束照射样品中的颗粒，当光遇到颗粒时会产生散射现象，散射光的强度与角度分布与颗粒大小密切相关。仪器利用高灵敏度光电探测器阵列捕获散射光信号，并通过全Mie散射理论进行计算，最终得到颗粒的粒度分布数据。激光粒度分布仪具有多项显著的技术特点。其测量范围宽广，通常支持0.1μm至500μm，部分型号甚至可达0.04μm至1000μm，能够满足从超细颗粒到粗颗粒的...

本文摘要在近些年的研究中，研究人员使用多种MalvernPanalytical技术对病毒和非病毒载体进行了表征[1]，本应用文章重点介绍了研究人员如何使用马尔文帕纳科ZetasizerUltra型纳米粒度及电位分析仪来表征两种mRNA-LNP配方中的几个重要的物理属性。01丨背景LNPs（LipidNanoparticles，脂质纳米颗粒）因在COVID-19mRNA疫苗中成功发挥作用，有效地保护和运输mRNA到细胞而闻名。然而，我们需要彻底理解这些系统的生物物理特性，以确保...