本文摘要使用Zetasizer纳米粒度电位仪进行预制备样品电位测量时，样品中产生的气泡会显著影响测量结果。本文将通过实际案例展示如何通过超声脱气与马尔文帕纳科的扩散屏障法[2]结合使用，来保障预制备样品电位结果的数据质量和一致性。01丨前言提到气泡，可能会联想到游戏和有趣，但在科学测量领域，它们往往带来更多的是辛苦和麻烦。使用纳米粒度电位仪进行电位测量，通常情况下，当样品制备好后立即进行电位测量时，气泡很少会有影响。然而，当我们分析大批量样品，需要高通量的方法，使用一些自动进...

X射线衍射仪是一种利用X射线衍射原理来精确测定物质的晶体结构、织构及应力，进行物相分析、定性分析、定量分析的仪器。其基本原理是：当一束X射线照射到晶体物质上时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射。衍射线在空间分布的方位和强度与晶体结构密切相关，不同的晶体物质具有自己独t的衍射图样。通过分析这些衍射图样，可以获得物质的晶体结构信息。X射线衍射仪的技术特点主...

粉末衍射仪，特别是粉末X射线衍射仪，是一种基于X射线衍射原理的重要分析仪器，在材料科学、化学、物理等多个领域发挥着举足轻重的作用。其工作原理是利用具有一定发散度的特征X光束照射多晶平板样品。多晶平板样品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所产生的衍射线将在适当的方位聚焦而形成衍射强峰。这些被聚焦的衍射线所对应的同名晶面或等同晶面与光源和接收狭缝处在同一聚焦圆周上。在测角仪扫描过程中，聚焦圆的半径会不断改变，但在样品一定深度范围内总是存在与聚焦圆吻合的弧面。这些满足...

激光粒度分布仪是一种用于测量和分析颗粒大小分布的精密仪器，主要利用激光技术进行粒度分析。其核心原理是激光散射技术。当激光束照射到颗粒样品时，颗粒会对激光产生散射现象。散射光的强度、角度和偏振状态与颗粒的大小、形状、折射率等参数密切相关。根据米氏散射理论（MieTheory），当颗粒的直径与激光波长相近或更大时，散射光的强度与颗粒的直径呈一定的函数关系。因此，通过测量散射光的分布，可以计算出颗粒的粒度分布。激光粒度分布仪主要由以下几个结构组成：1、光学系统激光器：通常为半导体激...

激光粒度分布仪是一种用于测量和分析颗粒大小分布的精密仪器，主要利用激光技术进行粒度分析。其核心原理是激光散射技术。当激光束照射到颗粒样品时，颗粒会对激光产生散射现象。散射光的强度、角度和偏振状态与颗粒的大小、形状、折射率等参数密切相关。根据米氏散射理论（MieTheory），当颗粒的直径与激光波长相近或更大时，散射光的强度与颗粒的直径呈一定的函数关系。因此，通过测量散射光的分布，可以计算出颗粒的粒度分布。激光粒度分布仪的安装是一个精细且规范的过程，需要确保仪器的准确性、稳定性...